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光通讯快速升降温试验箱

产品用途光通讯快速升降温试验箱主要用于考察产品热机械性能引起的失效,温度变化率一般小于20℃/分,实现以最快的速度真实再现所测样件应用环境条件。当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。一般应用于光电···
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产品介绍 / Introduction

产品介绍introduce

产品用途
光通讯快速升降温试验箱主要用于考察产品热机械性能引起的失效,温度变化率一般小于20℃/分,实现以最快的速度真实再现所测样件应用环境条件。当构成产品各部件的材料热匹配较差,或部件内应力较大时,温度循环试验可引发产品由机械结构缺陷劣化产生的失效。一般应用于光电器件、互连电路、组件单元及电子设备的筛选试验和失效模式评估。是发现产品设计缺陷和工艺问题的有效方法。
产品特点
美观大方的外观、精致灵巧的控制器不锈钢内外胆、易维护寿命长。控制器位于设备左侧,使用方便、易拆卸易运输。丰富实用的配件与选购件铝制冷凝交换器、涡旋式压缩机、固态静电传感器、低湿度范围保证了小噪音等项可靠性功能。设有多重独立超温保护,安全可靠。
符合的标准:
GJB1032-90 环境应力筛选方法。
GB2423.1-2008(IEC68-2-1)试验A:低温试验方法
GB2423.2-2008(IEC68-2-2)试验B:高温试验方法
GB2423.3-2006(IEC68-2-3)试验CA:恒定湿热试验方法
GB2423.4-2008(IEC68-2-30)试验CB:交变湿热试验方法
GB2423.22-2008(IEC68-2-14)试验NB:温度循环试验方法
GJB150.3A-2009(MIL-STD-810D)高温试验方法
GJB150.4A-2009(MIL-STD-810D)低温试验方法
GJB150.9A-2009(MIL-STD-810D)湿热试验方法
IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法
IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法
产品优势
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技术指标

型号

SESS-400S

SESS-600S

SESS-1000S

内箱尺寸

810×710×670mm

1020×860×670mm

1150×1100×900mm

外部尺寸

1090×1980×1780mm

1220×2170×2070mm

1350×2250×2110mm

温度范围

-70℃~+150℃

升温速率

全程线性升温速率3~15℃/min(负载运行)

降温速率

全程线性降温速率3~15℃/min(负载运行)

内箱材质

1mm厚不锈钢板SUS304CP种,2B抛光处理

外箱材质

1.0mm厚防锈处理冷轧钢板烤漆,颜色:电脑白

保温材质

硬质聚胺脂

制冷系统

能量调节措施(节能措施)在保证试验箱主要技术指标的前提下,采用的相应增设其能量调节措施。根据不同的降温速度和温度范围,通过控制器对蒸发温度、能量调节,热气旁通能量调节,实现对系统的制冷能力的调控。在即将达到目标低温值时,自动减小制冷量,很好解决了温度过冲的问题。在恒温段,淘汰了冷热平衡的恒温方式,从多方面考虑降低设备能耗

安全装置

漏电断路器,干烧保护器(仅湿热型),水系统保护装置(仅湿热型),风机电机过热保护,温度保险丝,控制回路过载短路保护器,上下限温度保护器,冷却水欠压保护继电器

配件

观察窗、50mm测试孔、隔板、说明书

控制器

进口日本优易控触摸式控制器

电源

AC380(1±10%)V (50±0.5)Hz 三相四线+保护地线

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